机械接触式测厚仪是一款基于机械接触测量原理的多功能厚度检测仪器,符合GB/T 6672、ISO 4593、ASTM D374、GB/T 451.3等多项标准。核心参数:测试范围0~2 mm、分辨率0.1 μm、测试压力0.3N(可调/可定制)、7英寸触摸屏控制。
纸和纸板厚度测试仪是一款专为造纸、包装及质检行业设计的精密厚度检测设备,符合GB/T 451.3、ISO 534及GB/T 6547等标准。核心参数:测试范围0~2 mm、分辨率0.1 μm、测试压力100±10 kPa(可定制)、接触面积200 mm²、7英寸触摸屏控制。
压力测厚仪是一款基于机械接触式测量原理、可精确控制测试压力的厚度检测仪器,符合GB/T 6672、ISO 4593、ASTM D374等标准。核心参数:测试范围0~2 mm、分辨率0.1 μm、测试压力0.3N(可调/可定制)、7英寸触摸屏控制。
塑料薄膜片测厚仪是一款基于机械接触式测量原理的精密厚度检测仪器,符合GB/T 6672、ISO 4593、ASTM D374等多标准要求。核心参数:测试范围0~2 mm、分辨率0.1 μm、测试压力0.3N(可定制)、7英寸触摸屏控制。
非晶带材叠片系数和厚度测试测厚仪 非晶带材厚度一般在20μm-30μm,叠片时厚度偏差的放大效应更明显,导致叠片系数低,因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。
高精度薄膜测厚仪电池隔膜测厚仪 机械接触式薄膜测厚仪通过截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。
非晶纳米晶合金带材叠片系数测试测厚仪 非晶带材厚度一般在20μm-30μm,叠片时厚度偏差的放大效应更明显,导致叠片系数低,因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。