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FTT-02平面压强法叠片系数测试仪—精准测量,赋能非晶纳米晶合金带材研发

更新时间:2025-01-14      点击次数:113

FTT-02平面压强法叠片系数测试仪—精准测量,赋能非晶纳米晶合金带材研发

在当今高科技迅猛发展的时代,非晶纳米晶合金作为一种新型的软磁材料,以其优异的磁性能、高电阻率、低损耗和低矫顽力等特点,在电力电子、变压器制造、新能源及航空航天等领域展现出广阔的应用前景。然而,非晶纳米晶合金带材的性能优劣,很大程度上取决于其叠片系数的高低。叠片系数是衡量带材叠装后紧密程度的重要指标,直接关系到产品的电气性能和使用寿命。因此,准确、高效地测量叠片系数,对于提升材料性能、优化产品设计具有重要意义。

为了满足这一迫切需求,西奥机电凭借其在机电测试领域的深厚积累和技术创新,隆重推出FTT-02平面压强法叠片系数测试仪。本产品严格按照国家标准GB/T 19346.2-2017中关于平面压强法测量叠片系数的要求设计制造,专为快淬工艺制造的非晶纳米晶合金带材的叠片系数测量而生,为材料研发和生产过程提供了强有力的技术支持。

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测试原理:科学严谨,精准可靠

FTT-02平面压强法叠片系数测试仪的测试原理基于平面压强法,通过一系列精密的操作和计算,准确测量带材的叠片系数。具体步骤如下:

  1. 试样制备:将一段非晶纳米晶合金带材裁切成一定数量、一定尺寸的片材试样,并确保所有试样同方向整齐叠放,形成试样叠层。这一步骤要求操作精度高,以确保测试结果的准确性。

  2. 施加压强:在规定的压强下,对试样叠层进行压制,以模拟实际使用中带材的叠装状态。FTT-02测试仪严格按照标准设计的接触面积和测试压力进行操作,确保测试条件的统一性和可重复性。

  3. 厚度测量:在施加压强后,使用高精度测量头测量试样叠层沿垂直于带材铸造方向的最大厚度。这一步骤是计算叠片系数的关键,要求测量设备具备高分辨率和稳定性。

  4. 计算叠片系数:根据试样叠层的质量、长度、宽度、最大厚度和材料密度等参数,通过一系列复杂的数学计算,得出叠片系数。FTT-02测试仪内置了先进的PLC工业控制程序和人机交互系统,能够自动完成这些计算过程,大大提高了测试效率和准确性。

产品特征:智能高效,操作便捷

FTT-02平面压强法叠片系数测试仪不仅测试原理科学严谨,而且在产品设计上充分考虑了用户的实际需求,具有以下显著特征:

技术参数:,满足多种需求

FTT-02平面压强法叠片系数测试仪在技术参数上同样表现出色,能够满足不同用户的多样化需求:

标准配置:全面周到,即插即用

FTT-02平面压强法叠片系数测试仪的标准配置包括主机、标准量块和自动进样装置。这些配置确保了测试仪能够立即投入使用,无需额外的购买和安装步骤。同时,用户还可以根据实际需要选购其他附件和配件,以进一步扩展测试仪的功能和应用范围。

结语:助力发展

FTT-02平面压强法叠片系数测试仪的推出,是西奥机电在机电测试领域的一次重要创新。它不仅为用户提供了科学、准确、高效的叠片系数测量手段,还为非晶纳米晶合金带材的研发和生产提供了有力的技术支持。未来,西奥机电将继续秉持“科技创新、质量为本"的发展理念,不断推出更多高品质、高性能的测试设备,为推动我国材料科学和制造业的发展贡献力量。

如果您正在寻找一款专业、可靠的叠片系数测试仪,FTT-02无疑是一个值得期待的选择。它将为您的研发和生产工作带来便捷和高效,助力您在激烈的市场竞争中脱颖而出,取得更加辉煌的成就!


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