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非晶带材叠片系数和厚度测试测厚仪

产品时间:2020-02-17

简要描述:

非晶带材叠片系数和厚度测试测厚仪
非晶带材厚度一般在20μm-30μm,叠片时厚度偏差的放大效应更明显,导致叠片系数低,因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。

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非晶带材叠片系数和厚度测试测厚仪 FTT-01

非晶带材的质量和应用效果主要有两个关键指标,叠片系数和厚度。

叠片系数简单地说就是变压器叠片铁芯的有效面积系数,叠片系数越高,铁芯的有效面积越大,使磁通密度减少,损耗降低。在制造过程中,硅钢片搭片、错片、毛刺、弯曲等缺陷会导致叠片系数降低,从而导致变压器性能降低,严重的如过大的毛刺会使片间短路,铁心的涡流损耗增加。

非晶带材厚度一般在20μm-30μm,叠片时厚度偏差的放大效应更明显,导致叠片系数低,因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。另外,按照国家标准GB/T 19345-2003非晶纳米晶软磁合金带材的规定,非晶带材厚度偏差为同一炉带材沿长度方向的厚度的±10%以内,在宽度方向的厚度偏差应在±2μm

试样准备

试样应无折皱,明显翘起等缺陷。

试样的制取和数量根据测试要求确定。

实验步骤

1.将准备好的试样固定在测试台上,点击气动夹持试样按钮,夹紧试样。

2.操作触摸屏,点击实验进入参数设置界面,设置测量时间,每个测试点间距,测试点数参数。

3.操作触摸屏,点击实验按钮,仪器自动根据设置的参数进行测量,并显示最终厚度和叠片系数的测试结果。

非晶带材叠片系数和厚度测试测厚仪

以上为济南西奥机电有限公司根据非晶带材客户相关资料进行整理和总结,仪器可以按照客户的不同要求进行定制,满足客户个性化的测试需求,有具体问题可以联系我司。

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