咨询热线

0531-88977153

当前位置:首页  >  新闻资讯  >  薄膜测厚仪拥有怎样的技术特征呢?

薄膜测厚仪拥有怎样的技术特征呢?

更新时间:2021-07-28      点击次数:976
 
  薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
  采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
  薄膜测厚仪的技术特征:
  1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
  2、测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
  3、支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
  4、系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
  5、实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
  6、配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
  7、系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
  8、系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
  9、标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
  10、支持Lystem?实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告
  • 公司地址:济南市工业北路5577号
  • 公司邮箱:sales@celtec.cn
  • 公司传真:0531-88977152
0531-88977153

销售热线

在线咨询
  • 微信公众号

  • 移动端浏览

Copyright © 2024 济南西奥机电有限公司版权所有   备案号:鲁ICP备15016422号-2    sitemap.xml    技术支持:化工仪器网   管理登陆